M-Scope Type Isynos用于光照射和光接收測量的光學系統(tǒng) 光學測量儀
synos用于光照射和光接收測量的光學系統(tǒng)M-Scope Type I 用于高性能光學測量的光學系統(tǒng)(用于光照射和光接收測量的光學系統(tǒng)) M-Scope Type I 是一種高性能光學系統(tǒng),設計用于多用途光學應用測量,例如光照射、光接收測量和光束輪廓測量。
更新日期:2024-03-23 訪問量:1290
I 型日本synos高性能光學測量光學系統(tǒng) 光學測量儀
日本synos高性能光學測量光學系統(tǒng) M 型示波器 I 型 用于高性能光學測量的光學系統(tǒng)(用于光照射和光接收測量的光學系統(tǒng)) M-Scope Type I 是一種高性能光學系統(tǒng),設計用于多用途光學應用測量,例如光照射、光接收測量和光束輪廓測量。
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日本OMT超寬范圍光度計 S009 這是一種細胞插入式超寬范圍弱發(fā)光測量裝置。 具有三位衰減率和低噪聲光子計數(shù)器的ND濾光片切換機制可以測量約3位的光強度范圍。
更新日期:2024-03-23 訪問量:1236
M020/M021/M022/M023日本OMT便攜式近紅外分析儀 光學測量儀
日本OMT便攜式近紅外分析儀 M020/M021/M022/M023 近紅外漫反射(透射)方法可以對食品、生物材料、合成樹脂等的結構和成分進行無損分析。 它是一種內置近紅外照射光源的集成設備,可按透射類型或反射類型測量光譜。 通過使用隨附的軟件分析測量的吸光度光譜,可以進行定量和定性分析。
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日本OMT近紅外分析光源 M018 用于成分分析的光源,通過用近紅外(NIR)照射測量目標,從漫反射光中獲得近紅外吸收。
更新日期:2024-03-23 訪問量:1191
日本dynatec大型平面檢查燈LFPA-D 大型工件的目視檢查的理想選擇 大型工件的印刷和雕刻檢查 非常適合托盤的數(shù)量檢查。
更新日期:2024-03-23 訪問量:1044
dynatec超亮芯片LED檢查燈LHMB,LHMB-V 光學測量儀
dynatec超亮芯片LED檢查燈LHMB,LHMB-V 薄型平面照明,表面安裝芯片 LED。 芯片 LED 以高密度安裝,提供高度均勻的光線,使其成為透射照明的理想選擇。
更新日期:2024-03-23 訪問量:1084
dynatec帶相機觀察窗口的表面照明燈IPS-FR 光學測量儀
dynatec帶相機觀察窗口的表面照明燈IPS-FR 表面照明,可通過鏡面反射照明進行檢測 有效檢查表面上的細小劃痕和檢查印刷/字符。
更新日期:2024-03-23 訪問量:421
日本dynatec可內置式微型聚光燈LHVA-SP30 光學測量儀
日本dynatec可內置式微型聚光燈LHVA-SP30 體積小,亮度高 非常適合機器人手臂前端的點照射
更新日期:2024-03-23 訪問量:1084
日本dynatec同軸聚光燈 LSV,LHV,LHVE 光學測量儀
日本dynatec同軸聚光燈 LSV,LHV,LHVE 理想的LED同軸和聚光照明,可替代用于遠心鏡頭的鹵素光導光源。
更新日期:2024-03-23 訪問量:1570
dynatec立方體圓頂照明檢查燈液晶-B16-HP 光學測量儀
dynatec立方體圓頂照明檢查燈液晶-B16-HP 電源 LED 用于為間接光提供足夠的光。 LED安裝部分為散熱器型,因此即使在穩(wěn)定的光線下也可以不產生熱量。
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日本jcri 便攜式銳度光澤儀 PGD-IV 它是一種評估涂漆表面透明度的測量儀器。
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eko太陽能電池評估的 I-V 曲線示圖儀MP-160 可以說是太陽能電池代名詞的硅基太陽能電池近年來,由于化合物基和染料敏化(濕)太陽能電池(稱為下一代太陽能電池)的研究和開發(fā)進展而受到關注,同時即使在批量生產水平上,性能改進和更大的直徑也在增加。
更新日期:2024-03-23 訪問量:1022
日本eko防曬霜檢測用紫外光譜輻射計MS-701 光學測量儀
日本eko防曬霜檢測用紫外光譜輻射計MS-701 該光譜輻射計是為現(xiàn)場連續(xù)觀測應用而開發(fā)的。 隨著時間的推移,可以進行可靠的測量。
更新日期:2024-03-23 訪問量:1331
日本ccsawaki光纖輸出半導體激光源FOLS-11 光學測量儀
日本ccsawaki光纖輸出半導體激光源FOLS-11 上升時間/下降時間~5ns,以30 MHz或更高頻率重復脈沖。 該器件通過集成輸出光纖、半導體激光元件、驅動電路、溫度控制電路和電源實現(xiàn)小型化。
更新日期:2024-03-23 訪問量:1006